在分析电缆的电阻和电阻率的基础上，讨论了标称电阻率和测量电阻率的问题。出了降低检测误差的方法，以及如何选择接收测试。
们希望电缆导体的电阻和电阻率测量是有用的。缆导体电阻测量电阻率测量的评估验收图像：类别：TM246文档标识符：A文章编号：1009-914X（2015）34-0251-01电阻和电阻率分析电缆中导体的电阻，主要是电流通过引起的阻塞效应。响驱动器电阻的因素主要与环境温度，导体横截面，长度和材料成分有关。常，电阻和电流之间的关系表明，电阻值越大，阻断电流的能力越大，载流能力越小。旦部门的研究机构进行了适当的测试，您就可以获得电缆的当前负载能力，您可以在申请过程中参考该负载能力。对电缆导体的电阻率的分析中，主要涉及诸如电阻率，体电阻率和体积电阻率的几种形式。积电阻率是指每单位长度和单位的每个部分的导体电阻。据标准，退火的铜的国际体积电阻率为1/58 = 0.017241Ω·毫米2 / m，在20℃的标称电阻率和在中国测量的电阻率的环境温度下也指定这样严格要求裸线产品的电阻率。验结束后，铜导体的体积电阻率为0.01690Ω·毫米2 / m，在20℃的环境温度下，这些数据可以指示该铜导体具有良好的质量等级时，结果低于上述标准数据，这被认为是不合理的，在20°C时是不可能的。上面的例子中，大多数都是圆形铜线和直径为0.3mm时，铜导体的导电率相对较高。论是在质量控制组织还是在公司，检查员必须具备必要的电缆基础知识和运动判断;如果铜导体电阻过低有问题，请注意这一点，然后从不同角度分析误差。
据实际经验，误差产生的原因主要包括以下几个方面[1，2]：首先，不使用驱动电阻固定。果不使用导体电阻设置，则样品长度的精度不能满足1000 mm的要求，精度误差。据规定，长度精度要求必须在±0.05％以内。次，不满足测量仪器的精度要求。
据标准，在测试确定所述电缆的金属材料的电性能的电阻率，相应的总误差主要涉及相关方面，包括样品和标准电阻的误差比较，以及测量电流。品加热误差，热电势引起的误差和标准电阻器的校准误差还有一系列测量仪器，这是由精度不足引起的误差该设备。三，设备的选择不符合测试标准的要求，测试标准可以被认为是由切割刀片形成的潜在接触点，其必须平行且垂直于样品的纵向轴线。中，接触是急性针接触。将实际接触和电位接触之间的距离控制为大于样品横截面周长的约1.5倍。四，环境温度和测试温度的测量带来不一致的问题。于样品，必须确保它可以放置在稳定的环境中一段时间，以便在测试和放置期间环境温度低于1°C。测量环境温度的过程中，控制保证在半径1米范围内，温度计的高度控制在1米以上。五，实验室温度计问题不准确。样，很可能发生温度指示的偏差并且执行相应的电阻率转换过程，并且可能发生一些温度系数选择偏差问题，其中导致导体电阻率转换不精确。试样损坏造成的误差。
确保样品表面无缺陷，光滑，清洁，无油污，灰尘和斑块。于上述缺陷，将提出高电阻率的问题。七，人为因素造成的错误。
于检查人员不了解测试设备的工作原理，操作不合格，不能彻底了解相应的标准，而且没有彻底的基础知识。此，它们引起的错误是人为错误，必须通过有效的学习来避免。方面的错误。于有效提高测量精度的思考基于上述误差分析，重点是如何有效地减少误差分析，主要包括以下几个方面[ 3]首先，在购买导体电阻设备的过程中，应该有效地保证不同的切割头的规格是理想的，可有效治疗所述电缆导体的直流电阻另外，
矿用电缆在测量之前必须确保绞合导体的对准，并且金属导体可以轻轻地敲击金属导体。成后，这会降低导体的弯曲程度，然后根据标准确保所选测量仪器符合标准要求或具有更高的精度，第三，温度稳定性确保环境温度，并且必须尊重样品的质量。室温下有足够的时间，规定时间超过16小时。四，必须选择满足精度要求的温度显示应用，并且可以有效地控制总误差。五，必须选择无创伤处理的金属导体并选择相应的参数。阻率和电阻的测量可以手动或视觉进行。外，对于导体的紧固过程，必须确保导体和夹紧法兰的边缘完全接触，但必须检查电阻以避免损坏样品。收评估方法的选择应基于“圆形电气铜线”标准，接受和评估输入电缆导体的相应电阻率。
于不合格的产品材料，不能采用严格的要求。果发现异常问题，必须及时报告，严格控制不合格的原料，并采用适当的技术手段对其进行处理，如退火。本要求是能够生产合格的成品电缆。果未满足此要求，则必须严格按照现行的产品控制规定执行相应的程序。成品电缆导体的情况下，
矿用电缆根据“电缆导体”标准评估和验证电阻。量电缆导体对原材料接受的电阻既不合理也不准确。于驾驶员资格并未表明驾驶员阻力符合标准要求，因此只能表明其可以应用，这就产生了电阻率不合格的问题。果你这样做，你经常会带来重大的经济损失。以得出结论，对于生产公司或测试单元，应考虑测量电缆导体的电阻和电阻率的正确方法，并有效地进行检查。缆或成品原料。
缆产品具有更高的产量。考文献：[1]朱永华，万树德，电缆半导体屏蔽层电阻率测试研究[J]。Wire Cable，2006，（1）。[2]羊哩酩，诸之摁，荣凯Yang等人，电缆和电缆设计结构的灵活的直流绝缘[J] .Automation电力系统，2013年，37（15）。[3]王文娟，冯瑞祥，朱小鹏等，电线电阻率测量不确定度评定[J]。
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